PLC器件测试

方案描述

PLC作为光无源网络搭建的关键光器件,传统的工厂依然采用熔接光纤、制作连接接头、缠绕测试等方法测试相关性能,该方法生产效率低,测试环节繁琐,已不能满足目前对于PLC器件的市场需求。

Dimension为了解决传统PLC生产方法带来的弊端,开发了一套专门针对于PLC测试的测试系统。该系统采用光时域反射原理作为基础,实现只通过光纤V型槽对接,就可以完成

PLC器件性能测试的问题,该方案可以大大提高测量的准确性以及厂家的生产效率。


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主要优势

● 测试无需熔接或制作连接头对接

● 插回损同时测量, 回损可双向测量

● 软件UI简洁明了,用户易使用,数据可实时记录

● 光纤对接参数实时显示,确保测试的准确性

● 可适用于16、32、64、128路PLC






应用

● PLC器件插回损性能测量

● 跳线、连接器性能检测