Dimension为了解决传统PLC生产方法带来的弊端,开发了一套专门针对于PLC测试的测试系统。该系统采用光时域反射原理作为基础,实现只通过光纤V型槽对接,就可以完成
PLC器件性能测试的问题,该方案可以大大提高测量的准确性以及厂家的生产效率。
● 测试无需熔接或制作连接头对接
● 插回损同时测量, 回损可双向测量
● 软件UI简洁明了,用户易使用,数据可实时记录
● 光纤对接参数实时显示,确保测试的准确性
● 可适用于16、32、64、128路PLC
● PLC器件插回损性能测量
● 跳线、连接器性能检测
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