光无源器件主要种类：光纤、光连接器、光滤波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔离器、光开关、环形器、衰减器等等。
光无源器件种类多样，主要测试规格参数比较集中（IL,RL等），如下框图所示：
插入损耗（IL)测试
回波损耗(RL)测试
免缠绕式插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计，实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.5s，最低能够实现-75dB的回波损耗探测。RLM包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm、单模:1310nm、1490nm、1550nm、1625nm)，快速而准确的测量功能，是提高生产效率和品质管控的有效工具。
单芯插回损仪
多芯插回损仪
PDL测试（可选）
偏振相关损耗PDL --光源、偏振控制器、OPM（必须对偏振不敏感，使用积分球）
其它参数指标：隔离度(Isolation)，一致性(Uniformity)，方向性(Directivity)等测量方法类似。
在生产制造测试领域，测试仪表要求测量速度快，精度高，稳定性好，扩展方便等特点。模块+平台化的测量解决方案在仪表拓展性，数据报告保存，可编程性等方面具有很大优势。
在线咨询
电话联系