插回损测试 插回损测试

RLM单芯插回损仪专家版

实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试

平台+模块化设计,应用扩展方便
RL免缠绕测试,双波长测试速度小于1s
RL最低可检测-75dB(单芯单模)
最短测量光纤长度0.7米
光功率计最低检测功率-50dBm
丰富可互换,高可靠性探测器适配器接头

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产品概述

Dimension单芯插回损测试仪采用高稳定度光源和高精度光功率计,实现免缠绕的回损测试和高速的插入损耗测试。单次单波长损耗检测时间小于0.5s,最低能够实现-75dB的回波损耗探测。RLM包含单模与多模共6个测试波长(多模:850nm、1300nm、单模:1310nm、1490nm、1550nm、1625nm),RLM快速而准确的测量功能,是提高生产效率和品质管控的有效工具。


主要优势

平台+模块化设计,应用扩展方便
RL免缠绕测试,双波长测试速度小于1s
RL最低可检测-75dB(单芯单模)
最短测量光纤长度0.7米
光功率计最低检测功率-50dBm
丰富可互换,高可靠性探测器适配器接头


主要应用

跳线、连接器性能检测
光无源器件性能检测


平台+模块化设计,应用扩展方便

维度科技的通用光学测试平台,提供了一整套的光学测试解决方案,包含双槽位ALPHA测试平台和11槽位OMEGA测试平台,可以兼容包含RLM插回损测试模块在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。


支持网络、USB、触摸屏和实体按键等多种控制方式

客户后续可购置其他功能模块进行功能扩展,例如可以扩展连接光开关、光衰减器、稳定光源、误码仪、高速光功率计等功能测试模块,可以实现对光器件等产品多种光学性能的一站式测试。


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RL免缠绕测试,双波长测试速度小于1s

基于光时域检测原理实现回波损耗免缠绕测试,一体式设计可实现插入损耗回波损耗同时测试。采用高速采样电路和算法优化,双波长测试速度小于1s。

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RL最低可检测-75dB(单芯单模),最短测量光纤长度0.7米

采用维度自研的高灵敏度探测电路以及优化的软件算法,RL最低可实现-75dB(单芯单模)的检测,可满足高性能单模跳线(SM/APC)的检测需求。


丰富可互换,高可靠性探测器适配器接头

为满足客户的不同需求,维度开发了一系列丰富可互换,高可靠性探测器适配器接头,使用方便,优化设计的积分球,兼容MPO连接器+双联LC连接器,一次测试无需重复插拔。

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自动保存测试数据报告

用户可自定义设置测试报告,可自动保存上传测试数据以及报告。


性能参数

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接口选型表

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订购信息

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[1]两位分别代表两个激光器位置,客户可在列表中选择激光器波长或者定制激光器波长。

备注信息:RL实现方式 A型号支持双激光器波长,两位数字编码分别代表两个激光器波长,客户可在列表中选择激光器波长或者定制激光器波长。A/B型号支持4个单模波长or红光,激光器波长需选择XX。



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